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IC芯片检测二箱式冷热冲击试验箱
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关键字：试验箱,冷热冲击试验箱,高低温冲击试验箱,温度冲击试验箱,三箱式冷热冲击箱,高低温试验箱
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应用领域

电子电器：IC芯片、PCB电路板的热胀冷缩可靠性测试

汽车工业：传感器、电池模块的极端温度冲击验证（-65℃↔150℃循环）

航空航天：机载设备在快速温变环境下的物理性能评估

材料科研：高分子材料（塑胶、陶瓷）的耐寒耐热性分析

 

参数项

技术规格

温度范围

高温区：+60℃+200℃；低温区：-40℃-75℃（分档可选：A/-40℃、B/-55℃、C/-65℃/C/-75℃）

温度波动度

±0.5℃（试验区）

温度均匀度

≤±2.0℃（全范围）

温度转换时间

≤515秒（高低温切换）

温度恢复时间

≤5分钟（空载条件下）

升温速率

高温区：平均5℃/min（常温→200℃约2040分钟）

降温速率

低温区：平均1.5℃/min（常温→-70℃约6080分钟）

试样承重

提篮承重1550kg（金属试样按1/3计算）
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