集成型测量荧光寿命的测试系统，测量范围从亚纳秒到毫秒量级，该系统操作简单，只需要放入样品，进入测量软件界面输入测试条件，极短时间内可获得高精度的荧光寿命，光致发光光谱，整个测量过程只需要60s即可完成。

测量荧光寿命
材料的荧光光谱参数对评估材料的性能非常重要，这些参数包括峰值波长，荧光强度。但是当材料含有多种物资和相互反应的元素时，仅仅获得荧光光谱是不够的，因为它只显示光谱的时间积分信息。一种比较有效的方法是观察材料发射光谱的时间动态信息，这就是荧光寿命的测量，即测量材料被脉冲光激发后回到基态的时间，一般是是亚纳秒到毫秒之间，测量结果包含更多的光谱信息，比如在相同的波长上不同的荧光寿命，以及每种所占的比率是多少等。
 

主要特点：
采用高灵敏度的时间相关单光子计数法Ø
时间分辨率高于100psØ

对于溶液样品，制冷温度可达到-196℃

可测磷光寿命Ø

测量荧光的时间分辨各向异性Ø
荧光光谱的测量

紧凑型设计Ø

简单快速测量2
7种激发光波长选择
280nm,340nm,365nm,405nm,470nm,590nm,630nmØ

分析不同的样品
薄膜，固体，液体，粉末

典型的应用领域
有机金属复合物
荧光探针
染料敏化太阳能电池
OLED材料
量子点
LED荧光粉

荧光寿命测量在众多研发领域有着广泛的应用，典型的应用包括有机复合材料分子间的电子移动和能量转移，有机电致发光器件的荧光和磷光测量，荧光探针的荧光共振能量转移，半导体测试等

两种型号：

NBET-YG300标准型号300nm至800nm

NBET-YG380近红外型号380nm至1030nm。