该产品适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
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产品用途( High and low temperature shock test chamber )
该产品适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
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箱体结构特点
全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间的参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。
冷箱、热箱独立控制，箱门互相独立，扩大试验箱的使用范围（一箱三用）。
产品保温效果可以得到充分保证。
试验箱门与循环风机，提蓝传动等互锁，保护操作者的安全，一旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。
在箱顶有标准引线孔管，方便用户向箱内引入传感器线，检测电缆等类型引线。

控制系统:低温区、高温区转换时间小于等于15秒。
温度恢复时间小于等于5分钟。

符合标准:GB/T2423.1.2、GB10592-2008、GJB150.3

规格与技术参数
型号(CM) LP/2XCJ-100 LP/2XCJ-225 LP/2XCJ-500  LP/2XCJ-010
工作室尺寸 45*45*50 60*60*60 80*80*80 100*100*100 
外型尺寸 156*87*159.5   171*102*184.5 191*122*226.5  211*142*266.5 
样品区尺寸 25*25*25 40*40*45 60*60*60 80*80*75 
功率(-40℃)  15(KW) 17(KW)   21(KW) 24(KW)
温度范围 A:-20℃200℃ B:-40℃200℃ C:-60℃200℃
温度误差 高温室及低温室均±3℃
温度波动 高温室及低温室均±2℃/±0.5℃（恒温时）